計測エンジニアリングシステム
小間番号
3S-E10
3S-E10
出展ゾーン
【データ駆動】研究開発DXゾーン
【データ駆動】研究開発DXゾーン
計測エンジニアリングシステム(KESCO)は、CAE・実験・製造データを統合し、設計・製造判断の信頼性を高めるAIソリューションを提供します。エンジニア向け機械学習ツールSmartUQでは、不確かさの定量化(UQ)により予測の信頼性やばらつき影響を評価し、要因特定やロバスト最適化を支援します。さらに、微細画像AI計測プラットフォームPollen Smart3により、画像と工程データを組み合わせたマルチモーダル解析にも対応します。
製品・サービス情報
新製品
資料PDF
デモ
ブース内プレゼン
SmartUQは、CAE・実験・製造データを統合し、少ないデータから高精度なAIサロゲートモデルを構築できるエンジニア向けツールです。モデルキャリブレーションにより実測とのズレを補正し、不確かさの定量化(UQ)に基づく信頼性評価を実現。要因特定、感度解析、ロバスト最適化を通じて、ばらつきやモデル誤差を前提とした外れにくい条件設計を支援します。
製品・サービスカテゴリー
ナノ材料
カーボンナノチューブ
グラフェン
ナノセルロース
フラーレン
ナノ粒子
ナノファイバー
複合材料(ナノコンポジット)
電池材料
半導体材料
抗菌材料(金属ナノ粒子など)
セラミックス
生体適合性材料
熱的機能材料(耐熱・蓄熱・熱伝導・断熱など)
ナノ評価・計測・分析・設計
電子顕微鏡(SEM,TEM)
SPM・AFM
粒径・分布計測
ラマン分光
評価・計測設計ツール
マテリアルズ・インフォマティクス
シミュレーションソフトウェア / スパコン
プロセスインフォマティクス
X線・放射光計測
クライオ顕微鏡
核磁気共鳴分析(NMR)
高機能・高感度センサー
加工プロセス
乳化・粉砕・攪拌・分級
均一分散
薄膜・コーティング(PVD・CVD)
高精度積層技術
ALD・ALE
量子ビーム・ レーザー加工
電子・イオンビーム・EUV露光・プラズマ加工
ナノインプリント
接着・接合技術
インクジェット
ナノ積層造形(3Dプリンタ)・ナノ積層フィルム
セミナー情報
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12月17日(木) 14:30 ~ 15:15会場:シーズ&ニーズセミナーA(南3ホール)
14:30 ~ 15:15シミュレーションと少ない実験データをつなぐ不確かさの定量化(UQ)
― サロゲートモデリングのマルチフィデリティとベイズキャリブレーションによるナノ分野への効率的な応用事前登録聴講登録は
こちらラヒム イクマル 氏
計測エンジニアリングシステム株式会社
連絡先情報
下記情報は来場者から出展者への事前アポイント・問合せを目的に公開しています。
それ以外の目的(セールス等)で無断に使用・転載する事を固く禁じます。
出展者名
計測エンジニアリングシステム
住所
〒 101-0047
東京都 千代田区内神田1-9-5 SF内神田ビル3階
東京都 千代田区内神田1-9-5 SF内神田ビル3階
TEL
0362737505
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